[发明专利]纳米颗粒的粒径细化方法及用于纳米颗粒粒径细化的系统有效
| 申请号： | 201610045875.2 | 申请日： | 2016-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN105621354B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 张渊明;李延钊 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | B82B3/00 | 分类号： | B82B3/00;B82Y30/00;B82Y40/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种纳米颗粒的粒径细化方法及用于纳米颗粒粒径细化的系统，涉及纳米材料领域，可细化纳米颗粒的粒径，提高原材料的利用率。该粒径细化方法包括；在溶液中加入第二纳米颗粒；其中，所述溶液包括第一纳米颗粒和分散剂；所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸；对加入有所述第二纳米颗粒的所述溶液进行超声振荡处理，使所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒发生碰撞，以细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸；从所述溶液中分离出细化后的第一纳米颗粒。用于纳米颗粒的粒径细化。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 颗粒 粒径 细化 方法 用于 系统 | ||
【主权项】：
1.一种纳米颗粒的粒径细化方法，其特征在于，所述方法包括：在溶液中加入第二纳米颗粒；其中，所述溶液包括第一纳米颗粒和分散剂；所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸；对加入有所述第二纳米颗粒的所述溶液进行超声振荡处理，使所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒发生碰撞，以细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸；从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒，包括：根据所述第一纳米颗粒与所述第二纳米颗粒在所述分散剂中的不同分散状态，将所述第二纳米颗粒从所述溶液中分离出；从分离出所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒；其中，所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒为不同种材料，且所述第二纳米颗粒在所述分散剂中的分散状态与所述第一纳米颗粒不同。
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