[发明专利]一种Te基全硫系光波导的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610046599.1 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN105549152B 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 沈祥;齐磊;李双;王国祥;徐培鹏;戴世勋;徐铁峰;聂秋华 申请(专利权)人: 宁波大学
主分类号: G02B6/13 分类号: G02B6/13;G02B6/132;C23C14/35
代理公司: 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 代理人: 周珏
地址: 315211 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种Te基全硫系光波导的制备方法,其包括以下步骤:①取一块硫系玻璃作为衬底;然后在硫系玻璃的光滑的上表面上镀设一层Ge‑Sb‑Se硫系薄膜;接着在Ge‑Sb‑Se硫系薄膜上涂覆一层光刻胶;②利用具有所需掩膜结构的掩膜板对步骤①得到的基材进行曝光和显影,得到具有掩膜结构的基材;③在步骤②得到的具有掩膜结构的基材上镀设一层Ge15Ga10Te75硫系薄膜;④将步骤③得到的基材完全浸入有机溶剂中,利用有机溶剂溶解步骤③得到的基材中的光刻胶,同时带走了位于光刻胶上方的Ge15Ga10Te75硫系薄膜,形成Te基全硫系光波导;优点是其制备得到的Te基全硫系光波导具有更宽的光透过范围,且对光具有很好的限域作用,能够有效地减少传输损耗。
搜索关键词: 一种 te 基全硫系光 波导 制备 方法
【主权项】:
1.一种Te基全硫系光波导的制备方法,其特征在于包括以下步骤:①取一块硫系玻璃作为衬底;然后在硫系玻璃的光滑的上表面上镀设一层Ge‑Sb‑Se硫系薄膜;接着在Ge‑Sb‑Se硫系薄膜上涂覆一层光刻胶;所述的步骤①中Ge‑Sb‑Se硫系薄膜的镀设采用磁控溅射方法,其中,磁控溅射镀膜系统的溅射腔室的真空度为1.5×10‑4帕~2.5×10‑4帕、起辉气压为2.8帕~3.2帕,磁控溅射镀膜系统的溅射气压为0.22帕~0.27帕、溅射功率为25瓦特~30瓦特、溅射时间为2小时~3小时,向磁控溅射镀膜系统的溅射腔室内通入的氩气的体积流量为45sccm~55sccm;②利用具有所需掩膜结构的掩膜板对步骤①得到的基材进行曝光和显影,得到具有掩膜结构的基材;③在步骤②得到的具有掩膜结构的基材上镀设一层Ge15Ga10Te75硫系薄膜;所述的步骤③中Ge15Ga10Te75硫系薄膜的镀设采用磁控溅射方法,其中,磁控溅射镀膜系统的溅射腔室的真空度为1.5×10‑4帕~2.5×10‑4帕、起辉气压为2.8帕~3.2帕,磁控溅射镀膜系统的溅射气压为0.22帕~0.27帕、溅射功率为25瓦特~30瓦特、溅射时间为2小时~3小时,向磁控溅射镀膜系统的溅射腔室内通入的氩气的体积流量为45sccm~55sccm;④将步骤③得到的基材完全浸入有机溶剂中,利用有机溶剂溶解步骤③得到的基材中的光刻胶,同时带走位于光刻胶上方的Ge15Ga10Te75硫系薄膜,形成Te基全硫系光波导。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波大学,未经宁波大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610046599.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top