[发明专利]一种基于DGT/LA-ICP-MS的沉积物空隙水金属元素微区分布的分析方法在审

专利信息
申请号: 201610048691.1 申请日: 2016-01-25
公开(公告)号: CN105606690A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 王圣瑞;吴志皓;倪兆奎;赵海超;焦立新 申请(专利权)人: 中国环境科学研究院
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李静
地址: 100012 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于DGT/LA-ICP-MS的沉积物空隙水金属元素微区分布的分析方法,包括:将DGT固定内标115In元素;再将作用上115In的固定胶在待测金属标准溶液中作用,得到待测金属元素标准固定胶;对待测金属元素标准固定胶进行LA-ICP-MS分析,制作DGT-待测金属元素标准曲线;然后将已经固定上内标115In的DGT探针放入沉积物中测试,进行LA-ICP-MS分析,并绘制DGT-待测金属图像。本发明的DGT固定胶内标115In处理方法简单,使用单层固定胶进行LA-ICP-MS分析,提高了分析的精密度、准确度,能对多金属元素同时进行分析,并能获得高质量的金属元素化学图像。
搜索关键词: 一种 基于 dgt la icp ms 沉积物 空隙 金属元素 区分 分析 方法
【主权项】:
一种基于DGT/LA‑ICP‑MS的沉积物空隙水金属元素微区分布的分析方法,其特征在于,包括步骤如下:(1)对DGT的固定胶进行内标115In预处理,得到内标115In固定胶;(2)用内标115In固定胶固定不同浓度的待测金属元素、干燥,得到待测金属元素标准胶;对待测金属元素标准胶进行LA‑ICP‑MS分析,测定待测金属元素/115In cps比值、及其对应的单位面积胶积累的待测金属元素的质量,并根据上述两种变量制作的DGT‑待测金属元素标准曲线;(3)将带有内标115In固定胶的DGT探针放入沉积物中进行测试,然后进行LA‑ICP‑MS分析,测定待测金属元素/115In cps比值,并根据DGT‑待测金属元素标准曲线计算出单位面积胶上积累的待测金属元素的质量,再根据DGT计算公式(3)得出DGT‑待测金属浓度CDGT,并绘制DGT‑待测金属图像;CDGT=MΔg/DAt     (3)其中:t‑操作时间(s);A‑暴露胶的面积(cm2);D‑扩散胶中溶质的扩散系数(cm2s‑1);Δg‑扩散层厚度(cm);M‑吸收的溶质的质量(ng),也就是固定胶上积累的待测元素的质量。
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