[发明专利]一种在介质环境中直接测量试样应变的方法有效
| 申请号： | 201610058721.7 | 申请日： | 2016-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN105674944B | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 钟巍华;佟振峰;宁广胜;鱼滨涛 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01B21/32 | 分类号： | G01B21/32 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种在介质环境中直接测量试样应变的方法，其包括步骤a，对样品进行重新设计；步骤b，测量两个所述凸台之间的间距，并将所述样品固定在牵引装置上；步骤c，将引导卡具的一端卡接固定在所述凸台上，另一端固定刚性的引导杆，并使所述引导杆与所述样品平行，将所述引导杆插入位移传感器中，且插入部分在所述位移传感器的测量范围内；步骤d，将所述样品置于介质环境中，启动所述牵引装置对所述样品进行牵引，记录所述位移传感器的测量值；步骤e，计算所述样品的应变值。这样，(通过所述凸台)可以对需要测量部位进行直接测量，与间接测量方法相比，该测量方法更直接、测量数据精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 介质 环境 直接 测量 试样 应变 方法 | ||
【主权项】：
一种在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，包括：步骤a，对样品进行重新设计，在原样品的基础上，在需要测量部位两端增加两个凸台；步骤b，测量两个所述凸台之间的间距，并将所述样品固定在牵引装置上；步骤c，将引导卡具的一端卡接固定在所述凸台上，另一端固定刚性的引导杆，并使所述引导杆与所述样品平行，将所述引导杆插入位移传感器中，且插入部分在所述位移传感器的测量范围内；步骤d，将所述样品置于介质环境中，启动所述牵引装置对所述样品进行牵引，记录所述位移传感器的测量值；步骤e，计算所述样品的应变绝对值，并根据所述样品被拉伸或被压缩，确定应变值为正值或负值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国原子能科学研究院，未经中国原子能科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610058721.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
