[发明专利]识别点密度的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201610059845.7 申请日: 2016-01-28
公开(公告)号: CN105654143A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 许文靖 申请(专利权)人: 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;张靖琳
地址: 100080 北京市海淀区杏石口路6*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供的一种识别点密度的方法,包括:接收坐标点集合和密度区范围参数,所述坐标点包括经度值和纬度值;将所述坐标点集合的所属区域按照经度方向均分为M个网格,将所述坐标点集合的所属区域按照纬度方向均分为N个网格,分别计算所述M个网格中的每个网格的点密度XSEC[i],i∈M,和所述N个网格中的每个网格点密度YSEC[j],j∈N;计算M*N个网格中的每个网格的点密度,其公式为:XYSEC[i][j]=XSEC[i]*YSEC[j],i∈M,j∈N,其中M,N为正整数。该方法通过M+N个网格的点密度计算,获得M*N个网格的点密度值,提高了点密度的计算速度,从而提高了数据的时效性。本发明同时提供对应的装置。
搜索关键词: 识别 密度 方法 装置
【主权项】:
一种识别点密度的方法,包括:接收坐标点集合和密度区范围参数,所述坐标点包括经度值和纬度值;将所述坐标点集合的所属区域按照经度方向均分为M个网格,将所述坐标点集合的所属区域按照纬度方向均分为N个网格,分别计算所述M个网格中的每个网格的点密度XSEC[i],i∈M,和所述N个网格中的每个网格点密度YSEC[j],j∈N;计算M*N个网格中的每个网格的点密度,其公式为:XYSEC[i][j]=XSEC[i]*YSEC[j],i∈M,j∈N,其中M,N为正整数。
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