[发明专利]检测消逝场与古斯汉欣位移关系的方法、装置及光学器件

摘要

本发明适用于光学技术领域，提供了一种检测消逝场与古斯汉欣位移关系的方法、装置及光学器件，所述方法包括根据光在消逝场中的受力函数和势场函数的物理含义，获得消逝场对全反射光的势场函数；结合所述消逝场对全反射光的势场函数，通过薛定谔方程得到微扰后全反射光的波函数；对比所述微扰后全反射光的波函数和没有消逝场作用时的自由全反射光的波函数，全反射光在消逝场的作用下获得与消逝场的动量性质相同的动量。本发明，实现对古斯汉欣位移更好的调控，使古斯汉欣位移在光学传感器、全光开关和光束位移调制器件等领域中得到很好的应用。

主权项

一种检测消逝场与古斯汉欣位移关系的方法，其特征在于，所述方法包括：根据光在消逝场中的受力函数和势场函数的物理含义，获得消逝场对全反射光的势场函数；结合所述消逝场对全反射光的势场函数，通过薛定谔方程得到微扰后全反射光的波函数；对比所述微扰后全反射光的波函数和没有消逝场作用时的自由全反射光的波函数，全反射光在消逝场的作用下获得与消逝场的动量性质相同的动量；所述光在消逝场中的受力函数以表示，具体为：其中，是电磁场的能量密度；ω表示角速度；γ＝(8πω)‑1是高斯单元；对于线偏振光，电场和磁场的偏振度相等αe＝αm＝α；表示轨道动量；和分别表示电场和磁场振幅；we和wm分别表示电场和磁场的能量密度。