[发明专利]残渣除去液、残渣除去方法和半导体设备的制造方法在审
申请号: | 201610071625.6 | 申请日: | 2008-08-21 |
公开(公告)号: | CN105543023A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 中村新吾;毛塚健彦 | 申请(专利权)人: | 大金工业株式会社 |
主分类号: | C11D11/00 | 分类号: | C11D11/00;C11D7/32;H01L21/02;C11D7/34 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;邸万杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种残渣除去液、残渣除去方法和半导体设备的制造方法。该残渣除去液用于除去干蚀刻和/或灰化后半导体基板上的残渣,其含Cu表面保护剂、能与Cu形成配位化合物或螯合物的化合物和水,该液pH为4~9,Cu表面保护剂由选自(1)~(3)中至少一种化合物构成,(1)含有具有式:=N-NH-所示结构的五元杂环芳香族化合物(不含3个N连续的化合物)作为基本骨架的化合物,其水溶液(10ppm、23℃)pH为7以下,(2)含有具有式:-N=C(SH)-X-(X为NH、O或S)所示结构的五元杂环化合物作为基本骨架的化合物,其水溶液(10ppm、23℃)pH为7以下,(3)含有具有至少1个氮原子的六元杂环芳香族化合物作为基本骨架的化合物,其水溶液(10ppm、23℃)pH为7以上。 | ||
搜索关键词: | 残渣 除去 方法 半导体设备 制造 | ||
【主权项】:
一种残渣除去液,其用于除去存在于干蚀刻和/或灰化后的半导体基板上的残渣,其特征在于:含有Cu表面保护剂、能够与Cu(铜)形成配位化合物或螯合物的化合物和水,该残渣除去液的pH为4~9,其中,Cu表面保护剂由选自下述(1)、(2)、(3)中的至少一种的化合物构成,(1)是含有具有式:=N‑NH‑所示结构的五元杂环芳香族化合物(不包括3个N连续的化合物)作为基本骨架的化合物,其水溶液(10ppm、23℃)的pH为7以下,(2)是含有具有式:‑N=C(SH)‑X‑(式中,X表示NH、O或S)所示结构的五元杂环化合物作为基本骨架的化合物,其水溶液(10ppm、23℃)的pH为7以下,(3)是含有具有至少1个氮原子(N)的六元杂环芳香族化合物作为基本骨架的化合物,其水溶液(10ppm、23℃)的pH为7以上。
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