[发明专利]一种辐射探测测量和成像方法及变结构PET设备无效
| 申请号： | 201610072123.5 | 申请日： | 2016-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN105676262A | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 郑睿;谢庆国;肖鹏;张博 | 申请（专利权）人： | 武汉数字派特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;A61B6/03 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖开发区高新大道*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐射探测测量和成像方法及实现该方法的变结构PET设备，该方法包括以下步骤：(1)确定待测量和成像区域的空间位置；(2)调节至少一个探测器的角度，使得所述调节后的探测器中轴穿过所述待测量和成像区域；(3)进行测量或者成像，所述进行测量或者成像的探测器包括部分或全部调节后的探测器。通过调节PET设备中探测器在固定机架内旋转角度，使得至少一个探测器的中轴汇集于待测量和成像区域中，从而该区域发射的成对伽马射线可以尽量垂直的入射进入对应探测器的晶体，尽量消除“深度效应”所带来的空间分辨率的损失，提高系统在待测量和成像区域的空间分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 探测 测量 成像 方法 结构 pet 设备 | ||
【主权项】：
一种辐射探测测量和成像方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)确定待测量和成像区域的空间位置；(2)调节至少一个探测器的角度，使得所述调节后的探测器中轴穿过所述待测量和成像区域；(3)进行测量或者成像，所述进行测量或者成像的探测器包括部分或全部调节后的探测器。
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