[发明专利]一种光热弱吸收测试装置及方法在审
| 申请号： | 201610081864.X | 申请日： | 2016-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN105717127A | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 王凤蕊;蒋晓东;刘红婕;周晓燕;李青芝;石兆华;黄进;耿锋;叶鑫;孙来喜 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 吴开磊 |
| 地址： | 621900 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光热弱吸收测试装置及方法，属于光学元件吸收率的测试技术领域，所述光热弱吸收测试装置包括第一光源、第二光源、微调平台及探测器，待测样品放置于所述微调平台上。通过微调平台调节待测样品的位置，使所述第一光源发出的泵浦光经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述待测样品的预设待测点，使所述第二光源发出的探测光也经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述预设待测点，且所述探测光的聚焦光斑面积大于所述泵浦光的聚焦光斑面积，透过所述待测样品的探测光入射至所述探测器。本发明实施例提供的光热弱吸收测试装置及方法有效地实现了对光纤或光纤预制棒等折射率呈轴对称分布的光学结构的光热弱吸收特性的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光热 吸收 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光热弱吸收测试装置，其特征在于，包括：第一光源、第二光源、微调平台及探测器，待测样品放置于所述微调平台上，所述待测样品为中心轴对称结构，所述待测样品的折射率呈轴对称分布；所述第一光源发出的泵浦光经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述待测样品的预设待测点，所述第二光源发出的探测光也经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述预设待测点，所述探测光的聚焦光斑面积大于所述泵浦光的聚焦光斑面积，透过所述待测样品的探测光入射至所述探测器；所述微调平台用于调节所述待测样品的位置，以使得所述泵浦光与所述探测光均聚焦到所述预设待测点；所述探测器用于根据所接收到的探测光得到所述待测样品对所述泵浦光的吸收。
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