[发明专利]实现冗余功能存储器芯片测试的方法有效
| 申请号： | 201610086766.5 | 申请日： | 2016-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN105761760B | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 朱渊源 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 王江富 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种实现冗余功能存储器芯片测试的方法，其把存储器芯片主区域测试向量按最小冗余单元进行分割，做成子测试向量组；针对每个测试项目分别运行子测试向量组，读出子测试向量组的每个向量的测试结果；把失效向量的序号换算成失效单元地址存放在内存变量中，不同测试项目的子测试向量组测试出的失效单元地址存放在不同的内存变量中，并累积计算每个测试项目的失效单元个数及地址；根据每个测试项目的失效单元个数及地址，统计得出存储器芯片主区域失效单元数的总和以及失效地址。本发明的实现冗余功能存储器芯片测试的方法，可以利用自带数字向量发生器的数字测试机实现和存储器测试机相同的冗余功能存储器芯片测试，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 冗余 功能 存储器 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种实现冗余功能存储器芯片测试的方法，其特征在于，利用自带数字向量发生器的数字测试机实现冗余功能存储器芯片测试，包括以下步骤：一、把存储器芯片主区域测试向量按最小冗余单元进行分割，做成子测试向量组；最小冗余单元是一个存储单元；二、针对每个测试项目分别运行子测试向量组，读出子测试向量组的每个向量的测试结果；三、把失效向量的序号换算成失效单元地址存放在内存变量中，不同测试项目的子测试向量组测试出的失效单元地址存放在不同的内存变量中，并累积计算每个测试项目的失效单元个数及地址；四、根据每个测试项目的失效单元个数及地址，统计得出存储器芯片主区域失效单元数的总和以及失效地址。
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