[发明专利]一种自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统及方法

摘要

本发明公开了一种自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统及方法，该系统除了一个外设的测试机台和若干个置于芯片上的嵌入式存储器，还包括同样位于所述芯片上的锁相环、加法器（或减法器）、状态机、参考数据产生器和数据比较器等5个模块。本发明通过内建自动化测试系统，将嵌入式存储器的工作时钟频率的的调节功能置于芯片内部而不是通过测试机台来完成，由于内建锁相环输出的时钟稳定且不受芯片IO最大工作频率的限制，所以本发明可以真正测到嵌入式存储器得最大工作频率，因而可以在较短的时间里将芯片内部某个或者某几个嵌入式存储器工作的最低电源电压测量出来，这大大减少了测量嵌入式存储器最大的工作频率的时间，提升了测试效率。

主权项

1.一种自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统，包括一个外设的测试机台（1）和若干个置于芯片上的嵌入式存储器（7），其特征在于：还包括同样位于所述芯片上的锁相环（2）、加法器（3）、状态机（4）、参考数据产生器（5）和数据比较器（6）；所述测试机台（1）分别与所述状态机（4）和所述锁相环（2）连接，所述状态机（4）分别连接所述加法器（3）、所述数据比较器（6）和所述参考数据产生器（5），所述状态机（4）还通过输入总线分别与每个所述嵌入式存储器（7）连接，所述加法器（3）分别与所述状态机（4）和所述锁相环（2）连接，所述锁相环（2）与所述状态机连接，且还与每个所述嵌入式存储器（7）连接，每个所述嵌入式存储器（7）均通过输出总线与所述数据比较器（6）连接，所述参考数据产生器（5）与所述数据比较器（6）连接，所述数据比较器（6）与所述测试机台（1）连接；所述状态机（4）的功能为接收所述测试机台（1）送入的时钟信号与开始信号以及比较结果信号；产生“进位使能”信号控制所述加法器（3）；产生包括片选信号，时钟信号，写使能信号，读使能信号，地址输入总线，数据输入总线在内的“存储器数据输入与控制信号”，控制所述嵌入式存储器（7）的写与读操作；产生参考数据使能信号，控制所述参考数据产生器（5）；所述锁相环（2）的功能为接收所述测试机台（1）送入的参考时钟和所述加法器（3）产生的频率调节所需的可选择位，调节“锁相环时钟输出”，同时将该“锁相环时钟输出”送入到每个所述嵌入式存储器（7）与所述状态机（4）；所述加法器（3）的功能为产生“锁相环时钟输出”频率调节所需的可选择位，控制所述锁相环（2）的输出时钟频率；所述参考数据产生器（5）的功能为接收所述状态机（4）送入的“参考数据使能”信号，产生用于所述数据比较器（6）的参考数据；所述数据比较器（6）的功能为接收所述状态机（4）送入的“数据比较使能”信号，接收所述参考数据产生器（5）送入的参考数据，接收所述嵌入式存储器（7）读出的存储阵列数据，将存储阵列数据与参考数据作比较，送出“数据比较结果”信号到所述测试机台（1）与所述状态机（4）。