[发明专利]一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置有效
| 申请号： | 201610097255.3 | 申请日： | 2016-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN107102210B | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 程剑 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人： | 孙涛;毛威 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置，该方法包括：设置待检测通道的配置信息，该配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及预配置信息，按照该预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置，按照各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值，当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照开启顺序的信息开启下一个待检测通道，并对该下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。本发明可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，以及降低检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电容 式触控 芯片 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于电容式触控芯片的电容检测方法，用于检测待检测通道的电容值，其特征在于，所述方法包括：设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息，所述待检测通道的数量小于所述电容式触控芯片可支持待检测通道的最大数量；按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。
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