[发明专利]一种糖结构鉴定方法及糖结构鉴定装置有效
申请号: | 201610109049.X | 申请日: | 2016-02-26 |
公开(公告)号: | CN105758928B | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 孙世伟;卜东波;杨飞;王耀军;李岩;黄纯翠;陈润生;高枫;刘亚名 | 申请(专利权)人: | 中国科学院计算技术研究所;中国科学院生物物理研究所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 祁建国;鲍俊萍 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种糖结构鉴定方法及糖结构鉴定装置,所述糖结构鉴定方法包括:步骤一:利用多级质谱信息进行待测糖结构谱峰对应的子结构预测,所述子结构作为对应谱峰的候选子结构;以及步骤二:利用De Novo糖结构鉴定技术,根据质谱谱峰对应的候选子结构组装出完整的糖结构。本发明基于糖结构多级质谱数据,采用De Novo糖结构鉴定技术,实现糖结构的鉴定,实现了多级质谱De Novo糖结构鉴定算法,通过有效的利用多级质谱信息,不仅显著提高了De Novo过程中枚举糖结构片段的效率,而且明显缩小了糖候选结构集合。 | ||
搜索关键词: | 一种 结构 鉴定 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种糖结构鉴定方法,其特征在于,包括步骤:步骤一:利用多级质谱信息进行待测糖结构谱峰对应的子结构预测,所述子结构作为候选子结构;以及步骤二:利用De Novo糖结构鉴定技术,根据质谱谱峰对应的候选子结构组装出完整的糖结构;其中,所述步骤一包括:步骤1:对糖样品进行纯化处理,注入质谱仪,得到一级质谱,在一级质谱中选取丰度最高的离子峰碎裂产生二级质谱;步骤2:根据二级质谱的母离子质量,枚举可能组成的单糖类型以及每种类型的单糖个数,得到母离子单糖组成;步骤3:对二级质谱中每个谱峰,枚举可能对应的离子类型以及单糖组成,并根据母离子单糖组成进行过滤得到每个谱峰对应的单糖组成,根据每个谱峰对应的单糖组成枚举可能的候选子结构。
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