[发明专利]半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法有效
| 申请号： | 201610110814.X | 申请日： | 2016-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN105784330B | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 曹军胜;高志坚;尹红贺 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙) 22210 | 代理人： | 刘慧宇 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法，属于半导体激光器的检测技术领域，为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性，将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上；线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接；被测巴条安装于探针台上，程控电流源的输出端连接探针台的电极，电极与被测巴条连接；微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条，被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD，微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值，扫描电流每增大一步，微控制器系统就读取一次线阵CCD，直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止；微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。 | ||
| 搜索关键词： | 巴条 微控制器系统 线阵CCD 发光点 半导体激光器 程控电流源 一致性检测仪 光学透镜 探针台 电极 检测 检测技术领域 读取 输出端连接 光电特性 扫描电流 样本计算 一维导轨 激光器 均匀性 一次线 方差 探针 成像 饱和 采集 驱动 | ||
【主权项】：
1.半导体激光器巴条单元一致性检测仪的检测方法，其特征是，包括以下步骤：步骤一，将探针台(1)、光学透镜(2)和线阵CCD(3)均安装于一维导轨(6)上；线阵CCD(3)和程控电流源(5)均与微控制器系统(4)连接；被测巴条(7)安装于探针台(1)上，程控电流源(5)的输出端连接探针台(1)的电极，电极与被测巴条(7)连接；步骤二，微控制器系统(4)控制程控电流源(5)产生步进扫描电流用于驱动被测巴条(7)，被测巴条(7)的各发光点经过光学透镜(2)成像于线阵CCD(3)，微控制器系统(4)通过线阵CCD(3)采集被测巴条(7)各发光点的亮度峰值，扫描电流每增大一步，微控制器系统(4)就读取一次线阵CCD(3)，直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD(3)的饱和值为止；步骤三，微控制器系统(4)以步骤二中被测巴条(7)各发光点的亮度为样本计算其方差，作为评价被测巴条(7)各单元一致性的指标，方差越大说明一致性越差，方差越小则说明一致性越好；设被测巴条(7)有n个发光点，所测各发光点的亮度值分别为x1、x2、...、xn，则方差s2的计算公式为：![]()
其中，![]()
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610110814.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
