[发明专利]具有气体颗粒物发生装置的气体颗粒物量测系统和量测方法有效

专利信息
申请号: 201610120381.6 申请日: 2016-03-03
公开(公告)号: CN105675453B 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 宾泽明;杨希;杨立君;邱致刚;梁鸿 申请(专利权)人: 中兴仪器(深圳)有限公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 深圳市舜立知识产权代理事务所(普通合伙) 44335 代理人: 李亚萍
地址: 518101 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种气体颗粒物量测系统,包括气体颗粒物发生装置和颗粒物量测装置,所述气体颗粒物发生装置包括气体颗粒物排列管道及加热机构。所述气体颗粒物排列管道包括气体颗粒物入口、气体颗粒物出口及气体颗粒物通道。所述气体颗粒物通道连接所述气体颗粒物入口和所述气体颗粒物出口,其内径沿由所述气体颗粒物入口向所述气体颗粒物出口方向减小。所述加热机构用于加热所述气体颗粒物排列管道而加热需要被量测的气体颗粒物。本发明还提供一种使用所述气体颗粒物量测系统的量测方法。所述气体颗粒物排列管道的气体颗粒物通道与所述加热机构配合将气体颗粒物进行单颗粒排列成气体单颗粒物,使得气体颗粒物能够以单颗粒的形式进入测量系统。
搜索关键词: 具有 气体 颗粒 发生 装置 物量测 系统
【主权项】:
1.一种气体颗粒物量测系统,其特征在于包括气体颗粒物发生装置和与所述气体颗粒物发生装置连接的颗粒物量测装置,所述气体颗粒物发生装置包括:气体颗粒物排列管道,包括:气体颗粒物入口;气体颗粒物出口,连接所述颗粒物量测装置;及气体颗粒物通道,连接所述气体颗粒物入口和所述气体颗粒物出口,其内径沿由所述气体颗粒物入口向所述气体颗粒物出口方向减小,所述气体颗粒物通道包括第一气体颗粒物通道、第二气体颗粒物通道及第三气体颗粒物通道,所述第二气体颗粒物通道连接所述第一气体颗粒物通道和所述第三气体颗粒物通道,所述第二气体颗粒物通道的最大内径与所述第一气体颗粒物通道的内径相同,所述第二气体颗粒物通道的最小内径与所述第三气体颗粒物通道的内径相同,所述第一气体颗粒物通道的内径不大于0.8mm,所述第三气体颗粒物通道的内径不大于0.3mm,所述气体颗粒物通道用于使需要被量测的气体颗粒物单颗依次进入所述颗粒物量测装置;及加热机构,用于加热所述气体颗粒物排列管道而加热需要被量测的气体颗粒物。
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