[发明专利]一种硅片抛光装置有效
申请号: | 201610120946.0 | 申请日: | 2016-03-03 |
公开(公告)号: | CN107154366B | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | 陈波;夏洋;李楠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 11302 北京华沛德权律师事务所 | 代理人: | 房德权 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种硅片抛光装置。所述装置,包括:工艺处理腔,所述工艺处理腔用于抛光硅片;旋转盘,所述旋转盘设置在所述工艺处理腔内,所述硅片放置于所述旋转盘上;电机,所述电机设置于所述工艺处理腔下方,并与所述旋转盘相连,用于驱动所述旋转盘旋转;去离子水输送管,所述去离子水输送管用于向所述硅片表面喷射去离子水;氧化性气体输送管,所述氧化性气体输送管用于向所述硅片表面喷射氧化性气体;刻蚀成份输送管,所述刻蚀成份输送管用于向所述硅片表面喷射刻蚀性气体或者刻蚀性液体。使用本发明,硅片表面可以被抛光得非常平整,并且半导体芯片的制备成本将会下降,品质将会提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅片 抛光 装置 | ||
【主权项】:
1.一种硅片抛光装置,其特征在于,包括:/n工艺处理腔,所述工艺处理腔用于抛光硅片;/n旋转盘,所述旋转盘设置在所述工艺处理腔内,所述硅片放置于所述旋转盘上;/n电机,所述电机设置于所述工艺处理腔下方,并与所述旋转盘相连,用于驱动所述旋转盘旋转;/n去离子水输送管,所述去离子水输送管用于向所述硅片表面喷射去离子水;/n氧化性气体输送管,所述氧化性气体输送管用于向所述硅片表面喷射氧化性气体;/n刻蚀成份输送管,所述刻蚀成份输送管用于向所述硅片表面喷射刻蚀性气体或者刻蚀性液体;/n当所述刻蚀成份输送管输送刻蚀性气体时,所述硅片抛光装置还包括:/n混合气体输送管,所述混合气体输送管一端分别与所述氧化性气体输送管和所述刻蚀成份输送管相连,另一端与所述工艺处理腔相连,用于向所述硅片表面喷射氧化性气体和刻蚀性气体的混合气体;/n混合器,所述氧化性气体输送管和所述刻蚀成份输送管分别通过所述混合器与所述混合气体输送管相连;/n所述去离子水输送管以通过所述硅片圆心的圆弧线为路径,做往复移动;/n所述混合气体输送管以通过所述硅片圆心的圆弧线为路径,做往复移动。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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