[发明专利]一种InSb光导器件及其制备方法在审
申请号: | 201610122190.3 | 申请日: | 2016-03-04 |
公开(公告)号: | CN105720128A | 公开(公告)日: | 2016-06-29 |
发明(设计)人: | 马可军;俞振中;郑律 | 申请(专利权)人: | 江苏森尼克电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/09 | 分类号: | H01L31/09;H01L31/0304;H01L31/18 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215634 江苏省苏州市张家港*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种InSb光导器件及其制备方法。InSb光导器件包括InSb光敏元件,InSb光敏元件通过扩散法掺杂有P型杂质。P型杂质为Zn或Cd。InSb光导器件制备过程包括:取InSb高纯晶体材料,通过切割、研磨、抛光、光刻成型制得厚度为5~15μm的高纯InSb光敏元件,然后采用扩散法向高纯InSb光敏元件内扩散掺杂P型杂质。具体地,将高纯InSb光敏元件和P型杂质:Sb源置于双温区真空石英管内,高纯InSb光敏元件区的温度为400~500℃,P型杂质:Sb源区的温度稍低。由于掺杂P型杂质,InSb光导器件为一种高性能的室温InSb光导器件,响应率较高,相比掺杂生长晶体具有较高产率。 | ||
搜索关键词: | 一种 insb 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种InSb光导器件,包括InSb光敏元件,其特征在于:所述InSb光敏元件通过扩散法掺杂有P型杂质。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏森尼克电子科技有限公司,未经江苏森尼克电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610122190.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于量子阱带间跃迁的光电探测器
- 下一篇:一种快恢复二极管及其制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的