[发明专利]MEMS芯片集成的封装结构及封装方法有效
申请号: | 201610139406.7 | 申请日: | 2016-03-11 |
公开(公告)号: | CN105621345B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 万里兮;马力;付俊;豆菲菲 | 申请(专利权)人: | 华天科技(昆山)电子有限公司 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00;B81C3/00 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德;段新颖 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种MEMS芯片集成的封装结构及封装方法,通过重布局金属线路将ASIC芯片的电性导出至与需要键合的MEMS芯片焊球相对应位置,并使MEMS芯片焊球与重布局金属线路相键合,可满足不同尺寸的MEMS芯片与ASIC芯片之间的封装要求,适用于所有的MEMS芯片封装;通过先形成包覆ASIC芯片、重布局金属线路及MEMS芯片正面的塑封层;再通过金属互连结构将ASIC芯片焊垫的电性引出至ASIC芯片背面,可使封装后的结构含有MEMS芯片及ASIC芯片的功能,且可以与其他功能芯片进行键合,实现芯片堆叠,适应更多的功能需求。本发明还具备封装成品尺寸小、制造工艺简单、性能优越、散热性佳的优点。 | ||
搜索关键词: | 封装 金属线路 键合 封装结构 电性 焊球 金属互连结构 相对应位置 功能芯片 功能需求 散热性佳 芯片堆叠 制造工艺 塑封层 包覆 导出 焊垫 背面 | ||
【主权项】:
1.一种MEMS芯片集成的封装结构,其特征在于:包括MEMS芯片(1)、ASIC芯片(2),所述ASIC芯片具有第一表面(202)和与其相对的第二表面(203),所述第一表面含有焊垫(201),所述MEMS芯片的正面具有焊料凸点(101),所述ASIC芯片焊垫的电性通过重布局金属线路导出至与待键合的MEMS芯片焊料凸点相对应的位置,所述MEMS芯片的正面与所述ASIC芯片的第一表面通过所述焊料凸点与所述重布局金属线路键合,所述MEMS芯片和所述ASIC芯片的第一表面通过塑封层包覆;所述ASIC芯片第一表面焊垫的电性通过金属互连结构导出至第二表面;所述ASIC芯片焊垫之间的间距大于所述MEMS芯片的焊料凸点之间的间距时,所述重布局金属线路向内导出至与所述MEMS芯片的焊料凸点相对应的位置;所述ASIC芯片的焊垫之间的间距小于所述MEMS芯片的焊料凸点之间的间距时,所述重布局金属线路向外扇出至与所述MEMS芯片的焊料凸点相对应的位置。
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