[发明专利]MEMS芯片集成的封装结构及封装方法有效

专利信息
申请号: 201610139406.7 申请日: 2016-03-11
公开(公告)号: CN105621345B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 万里兮;马力;付俊;豆菲菲 申请(专利权)人: 华天科技(昆山)电子有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00;B81C3/00
代理公司: 昆山四方专利事务所 32212 代理人: 盛建德;段新颖
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种MEMS芯片集成的封装结构及封装方法,通过重布局金属线路将ASIC芯片的电性导出至与需要键合的MEMS芯片焊球相对应位置,并使MEMS芯片焊球与重布局金属线路相键合,可满足不同尺寸的MEMS芯片与ASIC芯片之间的封装要求,适用于所有的MEMS芯片封装;通过先形成包覆ASIC芯片、重布局金属线路及MEMS芯片正面的塑封层;再通过金属互连结构将ASIC芯片焊垫的电性引出至ASIC芯片背面,可使封装后的结构含有MEMS芯片及ASIC芯片的功能,且可以与其他功能芯片进行键合,实现芯片堆叠,适应更多的功能需求。本发明还具备封装成品尺寸小、制造工艺简单、性能优越、散热性佳的优点。
搜索关键词: 封装 金属线路 键合 封装结构 电性 焊球 金属互连结构 相对应位置 功能芯片 功能需求 散热性佳 芯片堆叠 制造工艺 塑封层 包覆 导出 焊垫 背面
【主权项】:
1.一种MEMS芯片集成的封装结构,其特征在于:包括MEMS芯片(1)、ASIC芯片(2),所述ASIC芯片具有第一表面(202)和与其相对的第二表面(203),所述第一表面含有焊垫(201),所述MEMS芯片的正面具有焊料凸点(101),所述ASIC芯片焊垫的电性通过重布局金属线路导出至与待键合的MEMS芯片焊料凸点相对应的位置,所述MEMS芯片的正面与所述ASIC芯片的第一表面通过所述焊料凸点与所述重布局金属线路键合,所述MEMS芯片和所述ASIC芯片的第一表面通过塑封层包覆;所述ASIC芯片第一表面焊垫的电性通过金属互连结构导出至第二表面;所述ASIC芯片焊垫之间的间距大于所述MEMS芯片的焊料凸点之间的间距时,所述重布局金属线路向内导出至与所述MEMS芯片的焊料凸点相对应的位置;所述ASIC芯片的焊垫之间的间距小于所述MEMS芯片的焊料凸点之间的间距时,所述重布局金属线路向外扇出至与所述MEMS芯片的焊料凸点相对应的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华天科技(昆山)电子有限公司,未经华天科技(昆山)电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610139406.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top