[发明专利]一种偏振拉曼光谱的测定仪器及其测定方法

摘要

本发明公开了一种偏振拉曼光谱的测定方法，用于测定六方晶体的偏振拉曼光谱，该方法包括沿预定方向旋转六方晶体依次至第一采样点、……、第n+1采样点，其由初始位置旋转至第一采样点、……、第n+1采样点时的旋转角分别记作γ1、……、γn+1；直至旋转角γn+1的角度不少于180°；分别采集其在第一采样点～第n+1采样点时的偏振拉曼光谱并绘制偏振拉曼光谱图，提取各偏振拉曼光谱图中的偏振散射强度，并绘制偏振散射强度‑旋转角的趋势图。本发明还公开了偏振拉曼光谱的测定仪器。根据本发明的测定方法和测定仪器使用较少数量的光学元件，且无需频繁变动光路中的光学元件，即可简单方便地获得强度强、信噪比好的偏振拉曼光谱。

主权项

一种偏振拉曼光谱的测定仪器，用于测定六方晶体的偏振拉曼光谱，所述测定仪器包括依次排列的线激光器、瑞利滤波片和光栅，以及设置于所述瑞利滤波片下方的用于承载六方晶体的样品台；其中，以所述线激光器发射的激光为入射光，所述入射光经由所述瑞利滤波片照射至所述样品台上的六方晶体，以形成入射光路；所述六方晶体经由所述入射光照射产生散射光，所述散射光经由所述瑞利滤波片到达所述光栅，以形成收集光路；其特征在于，所述测定仪器还包括：插设于所述入射光路中的双折射偏光元件和插设于所述收集光路中的检偏器；其中，所述入射光经过所述双折射偏光元件后的偏振方向与所述散射光经过所述检偏器后的偏振方向相互平行或垂直。