[发明专利]封框胶宽度检测装置和检测方法有效
申请号: | 201610140769.2 | 申请日: | 2016-03-11 |
公开(公告)号: | CN105651184B | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 冯文超;曾小强;张宏宇;李向永;邢磊 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 汪源;陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种封框胶宽度检测装置和检测方法,该封框胶宽度检测装置包括:上测试基台、下测试基台和宽度检测单元;其中,上测试基台的下表面设置有第一测试基板,下测试基台的上表面设置有第二测试基板;第二测试基板用于供封框胶涂布设备在第二测试基板的上表面涂布至少一条测试封框胶;第一测试基板用于在第二测试基板的上表面涂布有测试封框胶后与第二测试基板进行对盒;宽度检测单元用于检测位于第一测试基板和第二测试基板之间的测试封框胶的宽度。本发明的技术方案可对封框胶涂布设备涂布出的封框胶的实际宽度进行检测,以供及时的对封框胶涂布设备的参数进行相应调整,从而避免了在对产线上的产品进行涂布时出现涂布不良的问题。 1 | ||
搜索关键词: | 测试基板 封框胶 测试基台 宽度检测装置 封框胶涂布 上表面 宽度检测单元 检测 测试 设备涂布 下表面 产线 对盒 | ||
所述上测试基台的下表面设置有第一测试基板,所述下测试基台的上表面设置有第二测试基板;
所述第二测试基板用于供封框胶涂布设备在所述第二测试基板的上表面涂布至少一条测试封框胶;
所述第一测试基板用于在所述第二测试基板的上表面涂布有测试封框胶后与所述第二测试基板进行对盒;
所述宽度检测单元用于检测位于所述第一测试基板和所述第二测试基板之间的所述测试封框胶的宽度。
2.根据权利要求1所述的封框胶宽度检测装置,其特征在于,所述上测试基台的下表面设置有第一凹槽,所述第一凹槽内设置有第一滑轨,所述第一滑轨沿第一方向延伸,所述下测试基台的上表面设置有与所述第一凹槽相对应的第二凹槽,所述第二凹槽内设置有与所述第一滑轨相对应的第二滑轨;所述宽度检测单元包括:检测光发射模块、检测光接收模块和位移检测模块,所述位移检测模块与所述检测光接收模块连接,所述检测光发射模块和所述检测光接收模块中的一个设置在第一滑轨上,另一个设置在第二滑轨上;
所述检测光发射模块用于向所述检测光接收模块发射检测光线;
所述检测光接收模块用于接收所述检测光发射模块发射出的检测光线;
所述位移检测模块用于在所述检测光发射模块和所述检测光接收模块同步沿所述第一方向运动过程中,检测所述检测光接收模块由第一状态位置运动至第二状态位置的位移,所述第一状态位置为所述检测光接收模块由能够接收到检测光线状态转变至无法接收到检测光线状态时对应的位置,所述第二状态位置为所述检测光接收模块由无法接收到检测光线状态转变至能够接收到检测光线状态时对应的位置。
3.根据权利要求1所述的封框胶宽度检测装置,其特征在于,所述上测试基台的下表面和所述下测试基台的上表面中的一个设置有凹槽,所述凹槽内设置有滑轨,所述滑轨沿第一方向延伸,所述上测试基台的下表面和所述下测试基台的上表面中的另一个对应所述滑轨的位置设置有反射结构;所述宽度检测单元包括:检测光发射模块、检测光接收模块和位移检测模块,所述位移检测模块与所述检测光接收模块连接,所述检测光发射模块和所述检测光接收模块设置于所述滑轨上;
所述检测光发射模块用于沿垂直于所述下测试基台的方向发射检测光线;
所述检测光接收模块用于接收所述反射结构反射的检测光线;
所述位移检测模块用于在所述检测光发射模块和所述检测光接收模块同步沿所述第一方向运动过程中,检测所述检测光接收模块由第一状态位置运动至第二状态位置的位移,所述第一状态位置为所述检测光接收模块由能够接收到检测光线状态转变至无法接收到检测光线状态时对应的位置,所述第二状态位置为所述检测光接收模块由无法接收到检测光线状态转变至能够接收到检测光线状态时对应的位置。
4.根据权利要求1所述的封框胶宽度检测装置,其特征在于,所述上测试基台的下表面设置有若干个第一真空吸附孔,所述下测试基台的上表面设置有若干个第二真空吸附孔。5.根据权利要求1所述的封框胶宽度检测装置,其特征在于,所述上测试基台的下表面设置有若干个容纳孔,所述容纳孔内设置有下压柱;所述下压柱在所述容纳孔中进行运动以从所述容纳孔内伸出或缩回至所述容纳孔内。
6.根据权利要求1所述的封框胶宽度检测装置,其特征在于,还包括:驱动单元,所述驱动单元与所述上测试基台连接,用于驱动上测试基台进行运动。7.根据权利要求1所述的封框胶宽度检测装置,其特征在于,所述供封框胶涂布设备在所述第二测试基板的上表面涂布的测试封框胶条数为多条时,所述封框胶宽度检测装置还包括:计算单元,所述计算单元与所述宽度检测单元连接;所述计算单元用于根据所述宽度检测单元检测出的各条所述测试封框胶的宽度计算出封框胶涂布设备涂布出的封框胶的实际宽度。
8.根据权利要求7所述的封框胶宽度检测装置,其特征在于,所述封框胶涂布设备涂布出的封框胶的实际宽度等于所述宽度检测单元检测出的各条所述测试封框胶的宽度的平均值。9.一种封框胶宽度检测方法,其特征在于,所述封框胶宽度检测方法基于上述权利要求1‑8中任一所述的封框胶宽度检测装置,所述封框胶宽度检测方法包括:所述封框胶涂布设备在所述第二测试基板的上表面涂布至少一条测试封框胶;
所述上测试基台运动至预设位置,以使得所述第一测试基板与所述第二测试基板进行对盒;
所述宽度检测单元检测位于所述第一测试基板和所述第二测试基板之间的所述测试封框胶的宽度。
10.根据权利要求9所述的封框胶宽度检测方法,其特征在于,当所述封框胶宽度检测装置采用上述权利要求2或3中的封框胶宽度检测装置时,所述宽度检测单元检测位于所述第一测试基板和所述第二测试基板之间的所述测试封框胶的宽度的步骤具体包括:所述检测光发射模块和所述检测光接收模块同步沿所述第一方向运动;
所述位移检测模块检测所述检测光接收模块由第一状态位置运动至第二状态位置的位移,所述第一状态位置为所述检测光接收模块由能够接收到检测光线状态转变至无法接收到检测光线状态时对应的位置,所述第二状态位置为所述检测光接收模块由无法接收到检测光线状态转变至能够接收到检测光线状态时对应的位置。
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