[发明专利]利用等离子体线级联结构反演强扰动电离层参量的方法有效

专利信息
申请号: 201610147359.0 申请日: 2016-03-16
公开(公告)号: CN105699973B 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 李海英;程木松;徐彬;吴振森;吴军 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S13/95 分类号: G01S13/95
代理公司: 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙)11316 代理人: 赵永伟
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种利用等离子体线级联结构反演强扰动电离层参量的方法,包括步骤(1)由非相干散射雷达观测数据,提取电离层加热实验引起的强扰动区域具有级联结构的异常非相干散射等离子体线功率谱;(2)对具有级联结构的异常非相干散射等离子体线功率谱中的相关峰值频差进行统计;(3)确定电离层加热过程中出现的低频波频率;(4)将步骤(2)中统计的频差与步骤(3)中计算得到的低频波频率进行对比,确定该级联结构是由电离层加热中参量衰变不稳定中哪种低频波产生的;(5)根据步骤(4)的结果,根据fpi的计算公式电子密度和电子温度。该方法能够很大程度提高反演精度,是获取强扰动电离层参量的一种新方法。
搜索关键词: 利用 等离子体 级联 结构 反演 扰动 电离层 参量 方法
【主权项】:
一种利用等离子体线级联结构反演强扰动电离层参量的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)由非相干散射雷达观测数据,提取电离层加热实验引起的强扰动区域具有级联结构的异常非相干散射等离子体线功率谱;(2)对具有级联结构的异常非相干散射等离子体线功率谱中的相关峰值频差进行统计;(3)确定电离层加热过程中出现的低频波频率,具体包括离子的等离子体频率fpi,离子的磁旋频率fci和离子声波频率fIA;(4)将步骤(2)中统计的频差与步骤(3)中计算得到的低频波频率进行对比,确定该级联结构是由电离层加热中参量衰变不稳定中哪种低频波产生的;(5)根据步骤(4)的结果,如果该级联结构频差与离子的等离子体频率一致,则根据fpi的计算公式可以获得电子密度;如果该级联结构的频差与离子声波频率fIA相等,则由离子声波的色散方程可以获得电子密度和电子温度。
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