[发明专利]温度可控的高温辐照靶室在审

专利信息
申请号: 201610157421.4 申请日: 2016-03-18
公开(公告)号: CN107204211A 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 夏海鸿;袁大庆;李怀林;燕鹏;孔淑妍;范平;张乔利;温阿利;马海亮;左翼;朱升云 申请(专利权)人: 国核(北京)科学技术研究院有限公司;中国原子能科学研究院
主分类号: G21K5/00 分类号: G21K5/00;G01N1/44
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 文洁
地址: 102209 北京市昌平区北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种温度可控的高温辐照靶室,包括真空腔室,所述真空腔室的腔室壁上设置有至少一个真空束流管道接口,以使离子束穿过真空束流管道接口照射至真空腔室的辐照样品中;辐照支撑台,所述辐照支撑台安装在所述真空腔室中;加热装置,所述加热装置安装在所述辐照支撑台上,所述加热装置承载辐照样品,并与辐照样品电绝缘地接触,从而以接触加热的方式将辐照样品加热至规定的温度;温度测量装置,所述温度测量装置用于测量辐照样品的温度;以及束流测量系统,所述束流测量系统用于测量靶室中央的辐照样品上的束流强度。根据本发明的高温辐照靶室加热温度更高并能快速对样品控温,而对辐照样品上的束流强度没有影响。
搜索关键词: 温度 可控 高温 辐照
【主权项】:
一种温度可控的高温辐照靶室,包括:真空腔室,所述真空腔室的腔室壁上设置有至少一个真空束流管道接口,以使离子束穿过真空束流管道接口照射至真空腔室的辐照样品中;辐照支撑台,所述辐照支撑台安装在所述真空腔室中;加热装置,所述加热装置安装在所述辐照支撑台上,所述加热装置承载辐照样品,并与辐照样品电绝缘地接触,从而以接触加热的方式将辐照样品加热至规定的温度;温度测量装置,所述温度测量装置用于测量辐照样品的温度;以及束流测量系统,所述束流测量系统用于测量靶室中央的辐照样品上的束流强度。
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