[发明专利]一种涂层下基体材料的鉴别方法及装置

摘要

本发明公开了一种涂层下基体材料的鉴别方法，包括：利用光脉冲对涂敷涂层的第一目标进行激励，通过红外热像仪采集红外热像图序列；针对第一目标任一点，获取该点的温度‑时间数据，进而获取该点的对数降温曲线；计算对数降温曲线的斜率，进而计算该点的分离特征值；获取第一目标每一点的分离特征值；进而得到第一目标表面灰阶图；获得多个目标中每一目标的表面灰阶图；根据表面灰阶图鉴别多个目标的基体材料；本发明能够通过分析不同基体与涂层对数降温曲线的分离程度，实现涂层下基体材料的检测和识别。

主权项

1.一种涂层下基体材料的鉴别方法，其特征在于，包括步骤：S1.利用光脉冲对涂敷涂层的第一目标表面进行激励，通过红外热像仪采集第一目标表面的红外信息，得到红外热像图序列；S2.针对第一目标表面的任一点，根据所述红外热像图序列获取该点的温度‑时间数据，通过温度‑时间数据获取该点的对数降温曲线；S3.计算所述对数降温曲线的斜率，并根据所述对数降温曲线的斜率计算该点的分离特征值，包括：S31.选取符合第一预设规则的第一时间值与第二时间值，通过对数降温曲线获取对应于第一时间值的第一温度值、对应于第二时间值的第二温度值；S32.根据公式1计算对数降温曲线的斜率；其中，k为对数降温曲线的斜率，a为第一时间值，m为第二时间值，b为第一温度值，n为第二温度值；b＝f(a)，n＝f(m)，y＝f(x)为对数降温曲线；S33.对对数降温曲线中采集于光脉冲激励之后的最早的M组数据进行拟合得到涂层斜率；S34.将对数降温曲线的斜率与涂层斜率的差值作为该点的分离特征值；S4.重复步骤S1‑S3，获取第一目标表面每一点的分离特征值；根据第一目标表面每一点的分离特征值，得到第一目标表面灰阶图；S5.针对第二目标、第三目标…第N目标中的每一目标，重复步骤S1‑S4，获得所述每一目标的表面灰阶图；根据表面灰阶图鉴别N个目标的基体材料；其中，M为小于15的正整数，N为大于1的整数。