[发明专利]AMOLED显示面板线缺陷的修复结构及修复方法

摘要

本发明提供一种AMOLED显示面板线缺陷的修复结构及修复方法，通过将修复线路中的导电薄膜(410)对应层叠覆盖于AMOLED显示面板检测线路中的测试TFT(310)上方并与测试TFT(310)绝缘，将修复线路中的修复导线(420)与AMOLED显示面板检测线路中所有的信号扇出线(200)、及对应的测试线(330)绝缘交叉，实现了将修复线路直接嫁接在AMOLED显示面板检测线路上，能够利用现有的AMOLED显示面板检测线路布局，既引入了修复线路具有修复功能，又节省布局空间，且对控制IC没有额外要求，尤其适用于小尺寸、高解析度的AMOLED显示面板的线缺陷修复。

主权项

一种AMOLED显示面板线缺陷的修复结构，其特征在于，包括：AMOLED显示面板检测线路、及直接嫁接在所述AMOLED显示面板检测线路上的修复线路；所述AMOLED显示面板检测线路包括多条信号线(100)、与信号线(100)一一对应相连的多条信号扇出线(200)、与信号线(100)一一对应相连的多个测试TFT(310)、与所有测试TFT(310)相连的一测试控制线(320)、及数条测试线(330)；所述测试TFT(310)包括栅极、源极(312)、有源层(313)、及漏极(314)；所有测试TFT(310)的栅极由所述测试控制线(320)充当，一测试TFT(310)的漏极(314)对应与一信号线(100)相连，一测试线(330)对应与部分测试TFT(310)的源极(312)相连；所述修复线路包括多块导电薄膜(410)、及数条修复导线(420)；所述导电薄膜(410)的数量与测试TFT(310)的数量对等，一导电薄膜(410)对应层叠覆盖于一测试TFT(310)上方并与该测试TFT(310)绝缘；所述修复导线(420)的数量与测试线(330)的数量对等，一修复导线(420)与所有的信号扇出线(200)、及一对应的测试线(330)绝缘交叉。