[发明专利]一种RIE制绒硅片表面修饰清洗方法有效
申请号: | 201610180460.6 | 申请日: | 2016-03-25 |
公开(公告)号: | CN105655445B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 黄钧林;范维涛;周肃;黄青松;黄惜惜;张鑫;勾宪芳 | 申请(专利权)人: | 中节能太阳能科技(镇江)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;H01L21/02 |
代理公司: | 南京先科专利代理事务所(普通合伙)32285 | 代理人: | 缪友菊 |
地址: | 212132 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种RIE制绒硅片表面修饰清洗方法,包括如下步骤准备RIE制绒硅片,并检测绒面反射率;根据上述测试的反射率结果配制初次修饰清洗药液,将硅片绒面浸入所述初次修饰清洗药液中进行初次清洗;将RIE制绒硅片取出,并采用去离子水清洗,去除硅片表面残留的药液;采用二次清洗液继续对制绒硅片清洗;采用去离子水冲洗RIE制绒硅片,并用吹干。本发明根据RIE方法制绒的硅片表面特征配制特定比例的清洗药液,通过搭配适当的清洗温度和清洗时间有效去除硅片表面的缺陷,去除硅片绒面上尺寸严重偏小的凹坑,使绒面形貌平滑;采用本发明方法清洗后RIE绒面效果优异,可有效提高电池效率,且本发明工艺流程简单,易于在生产线上推广。 | ||
搜索关键词: | 一种 rie 硅片 表面 修饰 清洗 方法 | ||
【主权项】:
一种RIE制绒硅片表面修饰清洗方法,其特征在于包括如下步骤:(1)准备RIE制绒硅片,并检测绒面反射率;(2)根据上述检测的反射率结果配制初次修饰清洗药液,所述初次修饰清洗药液包括NH4F、HF、H2O2和H2O,所述NH4F、HF、H2O2和H2O的摩尔比为5:1:4~10:20~30;将硅片绒面浸入所述初次修饰清洗药液中进行初次清洗;(3)将RIE制绒硅片取出,并采用去离子水清洗,去除硅片表面残留的药液;(4)采用二次清洗液继续对制绒硅片清洗,所述二次清洗液包括HF、HCl和H2O,所述HF、HCl和H2O的摩尔比为1:1~3:6~9;(5)采用去离子水冲洗RIE制绒硅片,并用吹干。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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