[发明专利]半导体结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201610181934.9 申请日: 2016-03-28
公开(公告)号: CN106992167A 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 吴铁将 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 宋献涛
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种半导体结构及其制作方法。半导体结构包含基板和电容结构。基板具有第一盲孔及沟槽,第一盲孔连通沟槽,第一盲孔具有第一深度,沟槽具有小于第一深度的第二深度。电容结构包含第一内导体、第一内绝缘体及外导体。第一内导体位于第一盲孔中,第一内绝缘体环绕第一内导体,外导体具有第一部分环绕第一内绝缘体,及一延伸部分从第一部分延伸出来,第一部分位于第一盲孔中,延伸部分位于沟槽中,第一内导体是借由第一内绝缘体与外导体隔离。借此,本发明的半导体结构为小尺寸,并且其电容值可以被轻易调整以满足所有种类的电源供应器。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种半导体结构,其特征在于,所述半导体结构包含:基板,其具有第一盲孔及沟槽,所述第一盲孔连通所述沟槽,所述第一盲孔具有第一深度,所述沟槽具有小于所述第一深度的第二深度;以及电容结构,其包含:第一内导体,其位于所述第一盲孔中;第一内绝缘体,其环绕所述第一内导体;以及外导体,其具有第一部分环绕所述第一内绝缘体,及一延伸部分从所述第一部分延伸出来,所述第一部分位于所述第一盲孔中,所述延伸部分位于所述沟槽中,其中所述第一内导体是借由所述第一内绝缘体与所述外导体隔离。
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