[发明专利]温度检测元件及温度检测器在审
申请号: | 201610182379.1 | 申请日: | 2016-03-28 |
公开(公告)号: | CN107238446A | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 秋谷智巳;安倍佳照 | 申请(专利权)人: | 新材料与产业技术北京研究院 |
主分类号: | G01K7/18 | 分类号: | G01K7/18;H01C7/04 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司11283 | 代理人: | 金旭鹏,肖冰滨 |
地址: | 102434 北京市房*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及检测领域,公开了一种温度检测元件及温度检测器,该温度检测元件包括电阻体和电连接在所述电阻体的端部的金属件;其中所述电阻体包括基线和均匀附着在所述基线上的碳纳米管。通过上述技术方案,提供了一种利用热电阻效应的温度检测元件,元件中的电阻体的基线可以根据温度检测要求被制作成任何合适的形状,此外,碳纳米管具有半导体的特性、比热高、能实现宽范围的温度检测。 | ||
搜索关键词: | 温度 检测 元件 检测器 | ||
【主权项】:
一种温度检测元件,其特征在于,该温度检测元件包括:电阻体和电连接在所述电阻体的端部的金属件;其中所述电阻体包括基线和均匀附着在所述基线上的碳纳米管。
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