[发明专利]用于在不确定集中选择采样空间的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201610193297.7 申请日: 2016-03-30
公开(公告)号: CN107292071A 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 卫文娟;刘春辰;冯璐 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 王茂华,李峥宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的实施方式涉及用于在不确定集中选择采样空间的方法和装置。在本发明的一个实施方式中,提出了一种用于在不确定集中选择采样空间的方法。该方法包括接收所述不确定集,所述不确定集是鲁棒优化中可以被赋予不确定参数的数值的集合;获取所述不确定集中的违背与所述鲁棒优化相关联的约束函数的不确定参数的基准采样点;以及基于所述基准采样点与所述不确定集之间的空间位置关系,在所述不确定集中选择用于进行采样的采样空间。在本发明的一个实施方式中,提出了一种用于在不确定集中选择采样空间的装置。
搜索关键词: 用于 不确定 集中 选择 采样 空间 方法 装置
【主权项】:
一种用于在不确定集中选择采样空间的方法,包括:接收所述不确定集,所述不确定集是鲁棒优化中可以被赋予不确定参数的数值的集合;获取所述不确定集中的违背与所述鲁棒优化相关联的约束函数的不确定参数的基准采样点;以及基于所述基准采样点与所述不确定集之间的空间位置关系,在所述不确定集中选择用于进行采样的采样空间。
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