[发明专利]一种基于最少团覆盖的相容扫描链压缩方法

摘要

本发明公开了一种相容扫描链压缩方法，尤其是基于最少团覆盖的相容扫描链压缩方法，集成电路测试技术，特别是对系统芯片(System‑on‑a‑Chip,SoC)的内建自测试(Built‑In Self‑Test,BIST)方法中测试数据压缩方法，本方法采取一种顶点度数从小到大寻找团的启发式算法，能用最少的团覆盖图的所有顶点，将扫描链的数目压缩到最少，减小了测试数据的宽度，缩短了测试应用时间。相容于传统的基于编码的测试数据压缩方法，本发明的结果可以应用传统的基于编码的测试数据压缩方法进行二次压缩。

主权项

一种基于最少团覆盖的相容扫描链压缩方法，其特征在于，步骤包括：(a)根据多个扫描链以及每个扫描链的多个位序的原始测试数据，构造无向图G，将每条扫描链作为图的一个顶点，若两条扫描链相容则在这两个顶点之间添加一条边，无向图G＝(V,E)，其中V为顶点集合，E为边集合；(b)将无向图G复制到无向图G’；(c)在无向图G’中找出度最小的顶点v；(d)将所有连接到顶点v的顶点找出，建立不包含顶点v的子图，复制到图G’，同时将顶点v加入团C；(e)重复执行步骤c和d，直到图G’为空，至此，团C为包含顶点v的极大团；(f)从无向图G中移除无向团C中的所有顶点，重复执行步骤b、c、d、e，直到无向图G为空；(g)对每个团C中包含的顶点对应的扫描链进行相容合并。