[发明专利]一种非挥发性存储器的自测试方法和装置有效
| 申请号： | 201610255836.5 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN107305789B | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 胡洪 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种非挥发性存储器的自测试方法和装置，非挥发性存储器包括自测试控制器，非挥发性存储器与测试设备相连，方法包括：通过非挥发性存储器接收测试设备发送的启动自测试指令；启动自测试控制器，确定最大测试次数和非挥发性存储器的各待测试项目；通过自测试控制器根据各待测试项目对非挥发性存储器进行测试，直至对各待测试项目的测试次数等于最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效；若任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效，则通过自测试控制器记录对应的项目失效信息至非挥发性存储器的第一预设存储空间。本发明使得老化测试简单方便，大幅降低了老化测试对测试设备的要求，测试成本更低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 挥发性 存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种非挥发性存储器的自测试方法，其特征在于，所述非挥发性存储器包括自测试控制器，所述非挥发性存储器与测试设备相连，所述自测试方法包括以下步骤：通过所述非挥发性存储器接收所述测试设备发送的启动自测试指令；启动所述自测试控制器，确定最大测试次数和所述非挥发性存储器的各待测试项目；通过所述自测试控制器根据所述各待测试项目对所述非挥发性存储器进行测试，直至对所述各待测试项目的测试次数等于所述最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效；其中，若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，则通过所述自测试控制器记录对应的项目失效信息至所述非挥发性存储器的第一预设存储空间。
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