[发明专利]一种增强注入型的发光二极管的外延结构制作方法在审

专利信息
申请号: 201610273688.X 申请日: 2016-04-28
公开(公告)号: CN105762241A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 汪洋;林志伟;陈凯轩;张永;姜伟;童吉楚 申请(专利权)人: 厦门乾照光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/12
代理公司: 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 代理人: 廖吉保;唐绍烈
地址: 361000 福建省厦门市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开一种增强注入型的发光二极管的外延结构制作方法,一,在衬底表面生长至少一层U/N‑GaN单晶薄膜,在U/N‑GaN单晶薄膜中生成穿透位错;二,在U/N‑GaN单晶薄膜上生长应力释放层,并在应力释放层中形成V型凹槽;三,在具有V型凹槽的应力释放层上生长多量子阱有源层;四,在有源层上生长P‑AlGaN层;五,在N2/H2/NH3混合气体中退火烤掉部分或全部V型凹槽斜面上的多量子阱有源层;六,生长一层U‑GaN覆盖V型凹槽斜面并延伸至P‑AlGaN层表面;七,生长P‑GaN将V型凹槽填平并覆盖在延伸至P‑AlGaN层表面的U‑GaN上。本发明可以增加空穴的有效注入,提高发光二极管的发光效率。
搜索关键词: 一种 增强 注入 发光二极管 外延 结构 制作方法
【主权项】:
一种增强注入型的发光二极管的外延结构制作方法,其特征在于:包括以下步骤:一,在衬底表面生长至少一层U/N‑GaN单晶薄膜,在U/N‑GaN单晶薄膜中生成纵向穿透位错;二,在U/N‑GaN单晶薄膜上生长应力释放层,并在应力释放层中形成V型凹槽,V型凹槽位于穿透位错正上方,由穿透位错二维生长面扩大开口形成;三,在具有V型凹槽的应力释放层上生长多量子阱有源层,并在有源层上延伸保持V型凹槽形状,且在水平生长面上持续扩大V型凹槽的面积;四,在有源层上生长P‑AlGaN层,并在P‑AlGaN层上延伸保持V型凹槽;五,在N2/H2/NH3混合气体氛围中退火烤掉部分或全部V型凹槽斜面上的多量子阱有源层;六,生长一层U‑GaN覆盖层在V型凹槽斜面并延伸至P‑AlGaN层表面;七,生长P‑GaN将V型凹槽填平并覆盖在延伸至P‑AlGaN层表面的U‑GaN上。
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