[发明专利]一种量子点超辐射发光二极管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201610274475.9 申请日: 2016-04-28
公开(公告)号: CN105870267B 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 訾慧;薛正群;苏辉;王凌华;林琦;林中晞;陈阳华 申请(专利权)人: 中国科学院福建物质结构研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/04
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙)11535 代理人: 刘元霞,张祖萍
地址: 350002 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种量子点超辐射发光二极管的制作方法,该方法包括以下步骤一次外延生长步骤采用MBE生长一次外延结构,其结构沿晶向依次包括N+‑GaAs衬底层(1)、N‑GaAs缓冲层(2)、N‑AlGaAs覆盖层(3)、AlGaAs下限制层(4)、含多层InAs量子点的有源区(5)、AlGaAs上限制层(6)、P‑AlGaAs覆盖层(7)、P‑GaAs保护层(8);形成脊形状的步骤;生长掩埋异质结的步骤;蒸发N、P型电极的步骤;镀膜步骤。本发明还提出了一种量子点超辐射发光二极管。本发明提出的超辐射发光二极管芯片具有高功率、宽光谱输出、低抖动的优点。
搜索关键词: 一种 量子 辐射 发光二极管 及其 制作方法
【主权项】:
一种量子点超辐射发光二极管的制作方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:一次外延生长步骤:采用MBE生长一次外延结构,其结构沿晶向依次包括N+‑GaAs衬底层(1)、N‑GaAs缓冲层(2)、N‑AlGaAs覆盖层(3)、AlGaAs下限制层(4)、含多层InAs量子点的有源区(5)、AlGaAs上限制层(6)、P‑AlGaAs覆盖层(7)、P‑GaAs保护层(8);其中有源区(5)包括第一未掺杂GaAs层、多层InAs量子点和第二未掺杂GaAs层,每层InAs量子点包括InAs量子点(9)、InGaAs覆盖层(10)和GaAs覆盖层(11);形成脊形状的步骤:去除所述一次外延结构中的P‑GaAs保护层(8)后,沉积介质膜、光刻、刻蚀介质膜、腐蚀形成脊结构;其中,所述脊结构包括直波导区域(16)和锥形波导区域(15),锥形波导区域(15)与直波导区域(16)相连,锥形波导区域(15)靠近出光端面(17),直波导区域(16)靠近背光端面(18);生长掩埋异质结的步骤:采用MOCVD外延生长对形成脊结构的片子进行掩埋生长,形成掩埋异质结结构;蒸发N、P型电极的步骤:对片子进行沉积钝化层、光刻、刻蚀钝化层、沉积P面金属、减薄、沉积N面金属、合金,形成芯片;镀膜步骤:对片子沿晶向解离成巴条,对巴条出光、背光端面进行蒸镀光学膜。
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