[发明专利]一种磁性隧道结双层导电硬掩模的刻蚀方法在审

专利信息
申请号: 201610283991.8 申请日: 2016-04-29
公开(公告)号: CN107331768A 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 张云森 申请(专利权)人: 上海磁宇信息科技有限公司
主分类号: H01L43/12 分类号: H01L43/12
代理公司: 上海容慧专利代理事务所(普通合伙)31287 代理人: 于晓菁
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种磁性隧道结双层导电硬掩模的刻蚀方法,包括如下步骤S1.提供包括磁性隧道结多层膜的衬底;S2.在衬底上依次形成钽膜层和氮化钛膜层;S3.图形化转移磁性隧道结图案到氮化钛膜层,使用光刻胶和有机抗反射层完成对图案的图形化定义;S4.采用Cl2/CH4混合气体干刻蚀氮化钛膜层,使图案转移到Ta膜层;S5.采用HCl/He/O2对氮化钛膜层和钽膜层进行选择性刻蚀,以完成对双层导电硬掩模的图案化;S6.采用氧气灰化工艺除去多余的光刻胶和有机抗反射层。有效的改善了磁性隧道结图案在双层掩模转移时尺寸变大,以及钽膜层提前被过度消耗等问题,降低了MRAM电路位线和MTJ单元短路的风险。
搜索关键词: 一种 磁性 隧道 双层 导电 硬掩模 刻蚀 方法
【主权项】:
一种磁性隧道结双层导电硬掩模的刻蚀方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:提供包括磁性隧道结多层膜的衬底;步骤S2:在所述衬底上依次形成钽膜层和氮化钛膜层;步骤S3:图形化转移磁性隧道结图案到所述氮化钛膜层,使用光刻胶和有机抗反射层完成对所述图案的图形化定义;步骤S4:采用Cl2/CH4混合气体干刻蚀所述氮化钛膜层,使所述图案转移到所述钽膜层;步骤S5:采用HCl/He/O2对所述氮化钛膜层和所述钽膜层进行选择性刻蚀,以完成对双层导电硬掩模的图案化;步骤S6:采用氧气灰化工艺除去多余的所述光刻胶和所述有机抗反射层。
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