[发明专利]沟槽型肖特基二极管的制备方法在审
申请号: | 201610290493.6 | 申请日: | 2016-05-04 |
公开(公告)号: | CN107346733A | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 赵圣哲;李理;赵文魁 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/06 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 张洋,刘芳 |
地址: | 100871 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种沟槽型肖特基二极管的制备方法,包括对表面依次设置了氧化硅层、氮化硅层的半导体硅基底进行光刻和刻蚀,以形成刻蚀窗口;通过刻蚀窗口,对半导体硅基底的N型外延层进行刻蚀,形成硅沟槽;去除氮化硅层,在整个器件的表面上形成栅极氧化层;在整个器件的表面上沉积第一多晶硅层,对第一多晶硅层进行刻蚀,在硅沟槽中形成第二多晶硅层;在整个器件的表面上依次形成介质层和金属层。沟槽型肖特基二极管的相邻硅沟槽之间N型外延层与金属层之间接触较好,使得相邻硅沟槽之间N型外延层与金属层之间形成的肖特基势垒接触良好,肖特基势垒较好,可以减小沟槽型肖特基二极管的反向漏电,进而提高沟槽型肖特基二极管的性能。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 型肖特基 二极管 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽型肖特基二极管的制备方法,其特征在于,包括:对表面依次设置了氧化硅层、氮化硅层的半导体硅基底进行光刻和刻蚀,以形成刻蚀窗口,所述半导体硅基底包括由下而上依次设置的N型衬底和N型外延层;通过所述刻蚀窗口,对所述N型外延层进行刻蚀,以形成硅沟槽;去除所述氮化硅层,并在整个器件的表面上形成预设厚度的栅极氧化层;在整个器件的表面上沉积第一多晶硅层,对所述第一多晶硅层进行刻蚀,以在所述硅沟槽中形成第二多晶硅层;在整个器件的表面上依次形成介质层和金属层,以形成沟槽型肖特基二极管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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