[发明专利]沟槽型肖特基二极管的制备方法在审

专利信息
申请号: 201610290493.6 申请日: 2016-05-04
公开(公告)号: CN107346733A 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 赵圣哲;李理;赵文魁 申请(专利权)人: 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/06
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 张洋,刘芳
地址: 100871 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种沟槽型肖特基二极管的制备方法,包括对表面依次设置了氧化硅层、氮化硅层的半导体硅基底进行光刻和刻蚀,以形成刻蚀窗口;通过刻蚀窗口,对半导体硅基底的N型外延层进行刻蚀,形成硅沟槽;去除氮化硅层,在整个器件的表面上形成栅极氧化层;在整个器件的表面上沉积第一多晶硅层,对第一多晶硅层进行刻蚀,在硅沟槽中形成第二多晶硅层;在整个器件的表面上依次形成介质层和金属层。沟槽型肖特基二极管的相邻硅沟槽之间N型外延层与金属层之间接触较好,使得相邻硅沟槽之间N型外延层与金属层之间形成的肖特基势垒接触良好,肖特基势垒较好,可以减小沟槽型肖特基二极管的反向漏电,进而提高沟槽型肖特基二极管的性能。
搜索关键词: 沟槽 型肖特基 二极管 制备 方法
【主权项】:
一种沟槽型肖特基二极管的制备方法,其特征在于,包括:对表面依次设置了氧化硅层、氮化硅层的半导体硅基底进行光刻和刻蚀,以形成刻蚀窗口,所述半导体硅基底包括由下而上依次设置的N型衬底和N型外延层;通过所述刻蚀窗口,对所述N型外延层进行刻蚀,以形成硅沟槽;去除所述氮化硅层,并在整个器件的表面上形成预设厚度的栅极氧化层;在整个器件的表面上沉积第一多晶硅层,对所述第一多晶硅层进行刻蚀,以在所述硅沟槽中形成第二多晶硅层;在整个器件的表面上依次形成介质层和金属层,以形成沟槽型肖特基二极管。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司,未经北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610290493.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top