[发明专利]二维角分布质子谱仪有效
| 申请号： | 201610329467.X | 申请日： | 2016-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN105826158B | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 杨骕;远晓辉;方远;葛绪雷;魏文青;邓彦卿;高健;刘峰;盛政明;张杰 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | H01J49/26 | 分类号： | H01J49/26 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司31236 | 代理人： | 郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种二维角分布质子谱仪，包括依次设置的质子筛选装置、电磁场装置以及质子探测装置，质子筛选装置包括二维点阵结构的入射孔阵列。本发明基于传统的Thomson质子谱仪，通过将Thomson质子谱仪的单个入射孔改进成入射孔阵列，能够同时测得质子束在不同方向上的能谱，进而获取质子的二维空间分布信息，从而大大提高获取质子束信息的能力。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 角分布 质子 | ||
【主权项】：
一种二维角分布质子谱仪，包括依次设置的质子筛选装置、电磁场装置以及质子探测装置，其特征在于，质子筛选装置包括二维点阵结构的入射孔阵列；入射孔阵列绕圆心旋转一定角度，使每个入射孔的不同谱线错开。
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