[发明专利]微介孔固体材料总比表面积和微孔比表面积的测定方法在审

专利信息
申请号: 201610343866.1 申请日: 2016-05-23
公开(公告)号: CN107421864A 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 殷喜平;朱玉霞;李叶;杨爱迪;张雪静;王涛;苑志伟;伊红亮 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石化催化剂有限公司;中国石油化工股份有限公司石油化工科学研究院
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08;G01N1/28;G01N7/04
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司11283 代理人: 刘兵,严政
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及测定方法领域,具体地,涉及一种微介孔固体材料总比表面积的测定方法和微孔比表面积的测定方法。所述微介孔固体材料总比表面积的测定方法包括以下步骤(1)脱气处理并测得样品的质量m;(2)测定吸附等温线,记录P、P0和V;(3)绘制BET图,然后计算得到S总,其中,所述P/P0选自0.005‑0.05范围内的至少5个点。所述微介孔固体材料微孔比表面积的测定方法包括(i)测得S总;(ii)选用P/P0在0.1‑0.3的范围内的至少5个点计算所述样品的非微孔比表面积SM;(iii)微孔比表面积SZ=S总-SM。采用本发明的测定方法能够很好地适用于微介孔固体材料,并准确地测定微介孔固体材料的总比表面积和微孔比表面积。
搜索关键词: 微介孔 固体 材料 表面积 微孔 测定 方法
【主权项】:
一种微介孔固体材料总比表面积的测定方法,其特征在于,该测定方法包括以下步骤:(1)对微介孔固体材料的样品进行脱气处理并测得样品的质量m;(2)对步骤(1)所得脱气处理后的样品测定吸附等温线,记录多个平衡压力P和饱和蒸汽压P0,并计算在标准状态下的单位质量样品的吸附量V;(3)以P/P0为横坐标,以为纵坐标,按照式I所示的BET方程绘制BET图,从而得到斜率和截距从而计算得到单层吸附容量Vm和BET常数C,然后按照式II所示方程求得所述微介孔固体材料的样品的总比表面积S总,其中σ为测定吸附等温线的过程中所用的吸附质的分子横断面积,N为阿佛伽德罗常数,V0为标准状态下1摩尔所述吸附质的体积,其中,在步骤(3)中,所述P/P0选自0.005‑0.05范围内的至少5个点。
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