[发明专利]一种半导体基片的流体动压抛光装置及其抛光方法有效
申请号: | 201610351953.1 | 申请日: | 2016-05-24 |
公开(公告)号: | CN105922124B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 路家斌;梁华卓;阎秋生;陈润 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | B24B37/10 | 分类号: | B24B37/10;B24B37/30;B24B37/34;B24B31/10;C09G1/02 |
代理公司: | 广东广信君达律师事务所44329 | 代理人: | 杨晓松 |
地址: | 510062 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体基片的流体动压抛光装置,包括抛光盘、第一转轴、抛光液、第二转轴、工件盘和待抛光件,所述第一转轴和第二转轴相互平行,且所述第二转轴向第一转轴方向水平滑动,所述抛光盘固定安装于所述第一转轴上,所述工件盘固定安装于所述第二转轴上,待抛光件的下底面与所述抛光盘的上表面相接触;所述抛光盘的上表面沿圆周方向设有多个楔形结构,所述抛光液覆盖于所述抛光盘的上表面上。并且提供一种抛光方法,包括以下步骤1)将抛光盘、待抛光件和工件盘进行安装;2)启动第一转轴和第二转轴进行抛光加工,并且不断向抛光盘的上表面加入抛光液,直至抛光完成;3)抛光完成。本发明具有抛光均匀、加工效率高和使用方便的有益效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 流体 抛光 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体基片的流体动压抛光装置,其特征在于:包括抛光盘、第一转轴、抛光液、第二转轴、工件盘和待抛光件,所述第一转轴和第二转轴相互平行,且所述第二转轴向第一转轴方向水平滑动,所述抛光盘固定安装于所述第一转轴上,所述工件盘和待抛光件设于所述抛光盘的上方,所述工件盘固定安装于所述第二转轴上,所述待抛光件固定安装于所述工件盘的下底面,且待抛光件的下底面与所述抛光盘的上表面相接触;所述抛光盘的上表面沿圆周方向设有多个楔形结构,所述抛光液覆盖于所述抛光盘的上表面上;所述抛光液由重量百分比15~40%且平均粒径为1~50μm的羰基铁粉、重量百分比为2~20%且平均粒径为1~50μm的磨料、重量百分比为1~10的甘油或油酸稳定剂和重量百分比1~10%的防锈剂组成;所述抛光盘的下方设有磁性体。
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