[发明专利]光学元件衰减测试装置

摘要

本发明实施例提供一种光学元件衰减测试装置，包括光源模块、光学元件放置架、以及光源选择模块，能够选择进行不同类型光源的光照老化，以及，设置于光学元件放置架两侧的第一功率检测模块和第二功率检测模块，当光学元件在选定的光谱以及预设的光功率的光照下发生老化后，通过上述功率检测模块测试获取光学元件的光学透过率的衰减情况。

主权项

1.一种光学元件衰减测试装置，其特征在于，包括：光源模块、光学元件放置架、以及光源选择模块，所述光源模块包括多个子光源模块，用于提供照射光学元件的光源；所述光学元件放置架用于设置光学元件；所述光源选择模块用于选通预设的子光源模块，其中，所述子光源模块的类型包括单色光光源，白光光源；以及，分别设置于所述光学元件放置架两侧的第一功率检测模块，第二功率检测模块，所述第一功率检测模块用于检测所述光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率；所述第二功率检测模块用于检测不同时刻透过所述光学元件的光功率；还包括，分析模块，用于根据所述第一功率检测模块和所述第二功率检测模块检测到的光源的光功率数据进行分析得到所述光学元件的光学特性衰减变化曲线。