[发明专利]面板缺陷检测方法和使用该方法的有机发光显示装置有效
| 申请号： | 201610365917.0 | 申请日： | 2016-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN106205439B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 谷领介;南宇镇;高杉亲知;曹景铉 | 申请（专利权）人： | 乐金显示有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;H01L27/32 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 朱胜;穆云丽<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种面板缺陷检测方法和使用该方法的有机发光显示装置。通过基于根据在显示面板的特定区域而不是所有区域中预设的、数量与感测子像素线的预定数量相等的感测子像素线上的子像素的特性值的感测结果的面板缺陷检测，密集地感测具有面板缺陷的可能性高的区域。提高了面板缺陷检测的速率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 面板 缺陷 检测 方法 使用 有机 发光 显示装置 | ||
【主权项】：
1.一种有机发光显示装置，包括：/n显示面板，在所述显示面板中，子像素以矩阵图案设置，所述子像素中的每一个均包括有机发光二极管和用于驱动所述有机发光二极管的驱动晶体管；/n感测单元，感测在感测线上的电压并输出感测值，所述感测线电连接至与多条子像素线当中要被感测驱动的子像素线对应的感测子像素线上的每个子像素内的驱动晶体管的第一节点；以及/n检测单元，基于根据所述显示面板中的至少一个预定区域中的、数量与感测子像素线的预定数量相等的感测子像素线的感测值，检测面板缺陷，/n其中，所述感测子像素线中的一条上的至少两个子像素电连接至不同的感测线。/n
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