[发明专利]无限兼有限共轭差动探测寻焦光电像分析器及其方法

摘要

本发明属于光电测试技术领域，涉及一种集光、机、电、算及自动控制为一体的无限兼有限共轭差动探测寻焦光电像分析器及其实现方法，是光电测试装备的基本构成单元之一。本发明是通过透射光路的高精度差动共焦定焦实现反射光路目标图像的清晰采集与定焦，通过光电像分析器测量物镜的加入实现有限共轭光学系统参数的测试，通过光电像分析器的平移及旋转实现光学系统轴上、轴外视场和折轴系统光学参数的测量，最终实现无限兼有限共轭目标光学成像系统轴上和轴外视场光学参数的高精度综合测试。本无限兼有限共轭差动探测寻焦光电像分析器通过相应测量方法和软件控制，可对光学系统所成的图像进行高精度快速自动采集、分析与处理，进而获得无限兼有限共轭光电仪器的性能参数。

主权项

无限兼有限共轭差动探测寻焦光电像分析器，其特征在于，包括：零视度准直镜(1)、准直镜支撑机构(13)、五自由度x‑y‑z‑α‑θ调整工作台(3)、像分析器支撑机构(4)、x向寻焦移动导轨(5)、x向寻焦移动导轨位移监测系统(6)、寻焦清晰图像采集器(7)、测量物镜(14)和计算机测控系统(22)，其特征在于：寻焦清晰图像采集器(7)包括第一分光镜(8)、面阵探测CCD(9)、第二分光镜(23)、第一针孔(10)、第一光电探测器(11)、第二针孔(26)、第二光电探测器(27)、计算机测控系统(22)；其中像分析器支撑机构(4)位于五自由度x‑y‑z‑α‑θ调整工作台(3)上，而零视度准直镜(1)、准直镜支撑机构(13)、x向寻焦移动导轨(5)、x向寻焦移动导轨位移监测系统(6)、寻焦清晰图像采集器(7)位于像分析器支撑机构(4)，并随像分析器支撑机构(4)一起通过五自由度x‑y‑z‑α‑θ调整工作台(3)调节无限远共轭目标光学系统(12)和有限远共轭目标光学系统(15)测试时的相对位置；面阵探测CCD(9)的探测面位于像方汇聚光束(2)被第一分光镜(8)反射的反射像方汇聚光束(17)的焦面位置；第一针孔(10)位于透射像方汇聚光束(17)经第二分光镜(23)透射的像方汇聚透射光束(25)焦点的远焦位置‑M处，第一光电探测器(11)位于第一针孔(10)之后；第二针孔(26)位于经第二分光镜(23)反射的像方汇聚反射光束(24)焦点的近焦位置M处，第二光电探测器(27)位于第二针孔(26)之后。