[发明专利]包括接触层的CMOS-MEMS集成装置及制造方法在审

专利信息
申请号: 201610409113.6 申请日: 2016-06-12
公开(公告)号: CN106241729A 公开(公告)日: 2016-12-21
发明(设计)人: 李大成;辛宗祐;J·I·辛;P·斯迈伊丝 申请(专利权)人: 因文森斯公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国,加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种包括接触层的CMOS‑MEMS集成装置及制造方法,其是一种用于形成MEMS装置的方法。该MEMS装置包括MEMS衬底及底座衬底。该MEMS衬底包括操作层、装置层及介于之间的绝缘层。本方法包括下列循序步骤:在该装置层上提供隔绝体;穿过该装置层及该绝缘层蚀刻贯孔;在该贯孔内提供接触层,其中该接触层在该装置层与该操作层之间提供电连接;在该隔绝体上提供黏合层;以及将该黏合层黏合至该底座衬底上的接垫。
搜索关键词: 包括 接触 cmos mems 集成 装置 制造 方法
【主权项】:
一种用于形成MEMS装置的方法,其中该MEMS装置包括MEMS衬底及底座衬底;其中该MEMS衬底包括操作层、装置层及介于之间的绝缘层,该方法包含以下循序步骤:在该装置层上提供隔绝体;穿过该装置层及该绝缘层蚀刻贯孔;在该贯孔内提供接触层,其中该接触层在该装置层与该操作层之间提供电连接;在该隔绝体上提供黏合层;以及将该黏合层黏合至该底座衬底上的接垫。
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