[发明专利]基于铜桥构造的封装结构及构造方法有效
申请号: | 201610452658.5 | 申请日: | 2016-06-21 |
公开(公告)号: | CN105914198B | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | 石一心 | 申请(专利权)人: | 无锡华润矽科微电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L21/48 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 214135 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于铜桥构造的封装结构及构造方法,其中包括基础框架、至少一个基岛和芯片,所述的基岛设置于所述的基础框架的背面且与基础框架相键合,且所述的基岛的正面向上,所述的芯片设置于所述的基础框架的正面,且所述的芯片贴设于所述的基岛的正面,其特征在于,所述的基岛为铜桥构造基岛或所述的基岛的背面贴设有铜条散热片;所述铜桥构造基岛是铜桥。采用该种基于铜桥构造的封装结构及构造方法,将Clip Bond技术与封装结构的基岛进行结合,将基岛改成铜桥形式的基岛,或在基岛的背面设置铜条散热片,用铜桥构造基岛的方式灵活多样,节约模具开发费用,用铜条构造的散热片能提高散热性能,具有更广泛的应用范围。 | ||
搜索关键词: | 基于 构造 封装 结构 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于铜桥构造的封装结构,所述的封装结构包括基础框架、至少一个基岛和芯片,所述的基岛设置于所述的基础框架的背面且与基础框架相键合,且所述的基岛的正面向上,所述的芯片设置于所述的基础框架的正面,且所述的芯片贴设于所述的基岛的正面,其特征在于,所述的基岛为铜桥或所述的基岛的背面贴设有铜条散热片;在基础框架和基岛的整体的下方贴有一层薄膜,所述的薄膜为能承受键合温度的绝缘薄膜。
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