[发明专利]一种测量近地表地层品质因子的方法及装置

摘要

本发明公开了一种测量近地表地层品质因子的方法及装置，属于石油地震勘探技术领域。本发明通过分别确定第一检波器和第二检波器检测的地震波的频谱，该第一检波器和该第二检波器分别设置于接收井的井底和井口，该地震波由设置于激发井的井底的激发点激发，该激发井的深度大于低速层厚度，该接收井的深度小于该低速层厚度，确定多个第三检波器检测的该地震波的频谱，基于该第一检波器、该第二检波器以及该多个第三检波器分别检测的该地震波的频谱，确定近地表的地层品质因子，由于接收井的深度小于该低速层厚度，因此，避免了低速层底界面对地震波的强反射所造成的干扰，提高了检波器检测地震波的准确性。

主权项

1.一种测量近地表地层品质因子的方法，其特征在于，所述方法包括：分别确定第一检波器和第二检波器检测的地震波的频谱，所述第一检波器和所述第二检波器分别设置于接收井的井底和井口，所述地震波由设置于激发井的井底的激发点激发，所述激发井的深度大于低速层厚度，所述接收井的深度小于所述低速层厚度，且所述接收井与所述激发井之间相距第一预设距离；确定多个第三检波器检测的所述地震波的频谱，其中，在所述激发井和所述接收井所在位置连线上设置有所述多个第三检波器，且所述多个第三检波器之间的距离为第二预设距离；基于第一频谱和第二频谱，确定低速层的地层品质因子，所述第一频谱为所述第一检波器检测的所述地震波的频谱，所述第二频谱为所述第二检波器检测的所述地震波的频谱；基于所述第二频谱和多个第三频谱，确定低速层下伏地层的地层品质因子，所述多个第三频谱中每个第三频谱为所述多个第三检波器中对应的第三检波器检测的所述地震波的频谱；通过指定公式，基于所述低速层的地层品质因子和所述低速层下伏地层的地层品质因子，确定所述近地表的地层品质因子；所述指定公式为：其中，所述Q为所述近地表的地层品质因子，所述Q1为所述低速层的地层品质因子，所述Q2为所述低速层下伏地层的地层品质因子，所述t1为所述地震波在所述低速层中的传播时间，所述t2为所述地震波在所述低速层下伏地层中的传播时间，且所述t1和所述t2是通过微测井技术预先测量得到。