[发明专利]电子设备屏蔽效能测试装置、系统及方法在审
申请号: | 201610530289.7 | 申请日: | 2016-07-07 |
公开(公告)号: | CN107589306A | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 魏子喻 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司44334 | 代理人: | 薛晓伟 |
地址: | 430205 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种电子设备屏蔽效能测试系统,包括测试装置及射频无反射室,测试装置包括信号源、天线板、接收天线及接收机,天线板上设置天线模组,信号源用于接通天线模组后产生场强,接收机用于通过接收天线而接收场强,当测试装置放置在射频无反射室时,接收机接收参考场强;当信号源与天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内、及测试装置与屏蔽壳体一起放置在射频无反射室进行测试时,接收机接收测试场强,测试人员根据参考场强及测试场强计算出电磁屏蔽效能值,从而通过电磁屏蔽效能值判断屏蔽壳体是否符合要求。本发明还提供一种测试装置及电子设备屏蔽效能测试方法。 | ||
搜索关键词: | 电子设备 屏蔽 效能 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种电子设备屏蔽效能测试系统,包括测试装置及射频无反射室,其特征在于:所述测试装置包括信号源、天线板、接收天线及接收机,所述天线板上设置天线模组,所述信号源用于接通所述天线模组后产生场强,所述接收机用于通过所述接收天线而接收所述场强,当所述测试装置放置在所述射频无反射室时,所述接收机获取参考场强;当所述信号源与所述天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内、及所述测试装置与所述屏蔽壳体一起放置在所述射频无反射室进行测试时,所述接收机接收测试场强,测试人员根据所述参考场强及所述测试场强计算出电磁屏蔽效能值,从而通过所述电磁屏蔽效能值判断所述屏蔽壳体是否符合要求。
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