[发明专利]基于原位透射电子显微镜的纳米材料交流电学性能测试装置及方法有效
| 申请号： | 201610539948.3 | 申请日： | 2016-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN106124543B | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 孙立涛;马青;董辉;张秋波;徐涛;苏适 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/2202;G01N23/2206;G01N27/02;G01N27/22;G01N1/28 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 杨晓玲 |
| 地址： | 211103 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于原位透射电子显微镜的纳米材料交流电学性能测试装置，包括纳米线样品、原位电学测试装置和阻抗频谱分析装置；原位电学测试装置包括钨探针和纳米线样品杆；纳米线样品可固定在纳米线样品杆；所述钨探针通过纳米微操纵杆控制与纳米线样品的接触；钨探针与纳米线样品接触后，钨探针、纳米线样品和阻抗频谱分析装置形成回路。本发明只需要将样品载入搭建的交流电学性能测试装置，通过施加测试的交流信号、控制纳米微操纵杆来改变探针和样品的接触状态，操作远比其他方法简单，测试结果具有直观性和定量检测的特性，且电学参数信息较为全面，可以广泛应用于未来各种纳米材料的电学性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 原位 透射 电子显微镜 纳米 材料 交流 电学 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.基于原位透射电子显微镜的纳米材料交流电学性能测试装置，其特征在于，包括纳米线样品、原位电学测试装置和阻抗频谱分析装置；所述原位电学测试装置包括钨探针和纳米线样品杆；纳米线样品可固定在纳米线样品杆中；所述钨探针通过纳米微操纵杆控制与纳米线样品的接触；钨探针与纳米线样品接触后，钨探针、纳米线样品和阻抗频谱分析装置形成回路。
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