[发明专利]深度校正测试设备及其测试方法有效
| 申请号： | 201610601168.7 | 申请日： | 2016-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN107656419B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 朱亚栋;戎琦;邵登科;范秋林;陈余天;薛江亮;禹福;王芳芳;吴锦;柯海挺;张宝忠 | 申请（专利权）人： | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G03B43/00 | 分类号： | G03B43/00 |
| 代理公司： | 上海联益知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31427 | 代理人： | 尹飞宇 |
| 地址： | 315400 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一深度校正测试设备，用于对待测模组进行深度校正测试，包括：一壳体，一测试组件，一控制面板，和一电控组件，其中所述测试组件、所述电控组件、设置于所述壳体内，所述控制面板设置于所述壳体表面，所述测试组件、所述控制面板以及所述电控组件电气性连接，所述电控组件通过所述控制面板控制所述测试组件对所述待测模组进行深度校正测试。 | ||
| 搜索关键词： | 深度 校正 测试 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一深度校正测试设备，用于对待测模组进行深度校正测试，其特征在于，包括：一壳体，一测试组件，一控制面板，和一电控组件，其中所述测试组件、所述电控组件、设置于所述壳体内，所述控制面板设置于所述壳体表面，所述测试组件、所述控制面板以及所述电控组件电气性连接，所述电控组件通过所述控制面板控制所述测试组件对所述待测模组进行深度校正测试。
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