[发明专利]一种固态硬盘的寿命测试方法及装置有效
| 申请号： | 201610622202.9 | 申请日： | 2016-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN107680632B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 张艾艾;丁金德 | 申请（专利权）人： | 大唐移动通信设备有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 刘松 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种固态硬盘的寿命测试方法及装置，用以提高测试效率，验证固态硬盘主控是否支持静态Wear‑Leveling算法，使测试结果更加准确。本申请提供的一种固态硬盘的寿命测试方法，包括：将冷数据和热数据分别写入待测试的固态硬盘中，并且将冷数据存入另一设备中进行备份；将所述热数据持续写入所述固态硬盘，并记录所述热数据的写入次数；根据所述热数据的写入次数，按照预设周期比较所述固态硬盘中的冷数据与备份的冷数据是否一致，如果是，则继续将所述热数据持续写入所述固态硬盘，否则，测试结束。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 寿命 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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