[发明专利]硅基液晶测试平台在审
| 申请号： | 201610640840.3 | 申请日： | 2016-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN107688248A | 公开（公告）日： | 2018-02-13 |
| 发明（设计）人： | 何文仁;杨胜凯 | 申请（专利权）人： | 豪威科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 | 代理人： | 程殿军 |
| 地址： | 美国加州9505*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种硅基液晶测试平台，至少包含承载基座；伸缩转接器，配置于承载基座上方，伸缩转接器包含至少一第一环体，具有一第一半径的一第一孔洞贯穿；以及至少一第二环体，具有一第二半径的一第二孔洞贯穿，耦接至少第一环体，其中至少第一环体与至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度；镜头，连接伸缩转接器；及偏振分光棱镜，配置于检测光学路径上。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 测试 平台 | ||
【主权项】：
一种硅基液晶测试平台，其特征在于，其至少包含：承载基座；伸缩转接器，配置于所述承载基座的上方，所述伸缩转接器至少包含：至少一第一环体，具有一第一半径的一第一孔洞贯穿；以及至少一第二环体，具有一第二半径的一第二孔洞贯穿，耦接所述至少第一环体，其中所述至少第一环体与所述至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少所述伸缩转接器的长度；镜头，连接所述伸缩转接器；及偏振分光棱镜，配置于检测光学路径上。
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