[发明专利]液晶面板测试平台有效
申请号: | 201610640849.4 | 申请日: | 2016-08-05 |
公开(公告)号: | CN107688249B | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 钟健祯;杨明昌;杨胜凯 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 程殿军 |
地址: | 美国加州9505*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种液晶面板测试平台,至少包含:一影像测试板,具有至少一侦测针脚;一转接板,配置于影像测试板的对面,具有至少一金属垫;以及一智能接触判断装置,与影像测试板及转接板耦接,智能接触判断装置至少包含:至少一发光二极管,耦接至少一金属垫;以及至少一电路,耦接至少一侦测针脚,其中电路具有一电阻,以及其中当至少一金属垫接触至少一侦测针脚时,发光二极管与电路电性耦接,以利于判断转接板与影像测试板是否对准。 | ||
搜索关键词: | 液晶面板 测试 平台 | ||
【主权项】:
一种液晶面板测试平台,其特征在于,其至少包含:一影像测试板,具有至少一侦测针脚;一转接板,配置于所述影像测试板的对面,具有至少一金属垫;以及一智能接触判断装置,与所述影像测试板及所述转接板耦接,所述智能接触判断装置至少包含:至少一发光二极管,耦接所述至少一金属垫;以及至少一电路,耦接所述至少一侦测针脚,其中所述电路具有一电阻,以及其中当所述至少一金属垫接触所述至少一侦测针脚时,所述发光二极管与所述电路电性耦接,以利于判断所述转接板与所述影像测试板是否对准。
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