[发明专利]一种访问时间测量电路和访问时间测量方法有效
| 申请号： | 201610642238.3 | 申请日： | 2016-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN107705818B | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 仇超文 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人： | 高伟;赵楠 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种访问时间测量电路和访问时间测量方法。所述访问时间测量电路包括：多个测量支路，每一所述测量支路均包括依次串联连接的静态随机存取存储器、辅助延迟链模块和延迟触发模块；以及一参考支路，所述参考支路的输出端分别连接至每一所述延迟触发模块的第一输入端。本发明的访问时间测量电路和访问时间测量方法可以同时测量多个SRAM的访问时间，大大缩短了测试时间，并且提高了测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 访问 时间 测量 电路 测量方法 | ||
【主权项】：
一种访问时间测量电路，其特征在于，所述测量电路包括：多个测量支路，每一所述测量支路均包括依次串联连接的静态随机存取存储器、辅助延迟链模块和延迟触发模块；以及一参考支路，所述参考支路的输出端分别连接至每一所述延迟触发模块的第一输入端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司，未经中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610642238.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
